디스플레이용 마이크로 LED 품질검사 방법, 

국제 표준으로 추진

- 반도체 소자(IEC TC47) 국제회의 개최(5.22 ~ 24) 계기로 국제표준 제안

차세대 디스플레이의 핵심부품으로 평가되는 마이크로 엘이디(Micro LED, 초소형 발광 다이오드) 소자의 검사장비 기술이 국제표준으로 추진된다. 산업통상자원부 국가기술표준원(원장 진종욱, 이하 국표원)은 5.22일부터 5.24일까지 제주에서 개최되는 반도체 소자(IEC TC47) 국제표준 회의에서 이번 표준을 제안했다. 이번 회의에는 한국, 중국, 일본, 독일 4개국 50여명의 반도체 전문가가 참가했다.

최근 우리나라는 인공지능용 뉴로모픽 반도체, 시스템 반도체 공정 부품 검사장비 등의 국제표준 개발을 주도하고 있으며, 이번 회의에서 디스플레이용 마이크로 LED 소자 품질평가 방법을 신규로 제안했다. 마이크로 LED는 무기발광 소자로써, 탄소화합물 기반 유기발광 소자인 OLED보다 수명이 길고, 화면에 잔상이 남는 번인현상이 없어 차세대 디스플레이로 각광받고 있다. 마이크로 LED 디스플레이는 머리카락 굵기(평균 100㎛) 보다 얇은 1~20 마이크로미터(㎛) 크기의 LED 소자를 수천만에서 수억 개를 붙여 제작하는데, 개개의 LED가 화소의 구성요소가 되어 그 자체로 색과 빛을 조절하기 때문에 균일한 품질의 LED 소자를 확보하는 것이 관건이다.

제안 표준은 광발광(Photoluminescence) 측정법을 활용한 비접촉식 마이크로 LED 소자 품질 검사 방법이다. 광발광 측정법은 LED 소자가 레이저 등을 통해 빛에너지를 받으면 마치 전원이 연결된 것처럼 빛을 내는데, 이 빛을 분석하여 검사하는 비접촉식 방법이다. 기존 방식인 전원을 연결하는 접촉식 방법 대비 빠르고 경제적으로 불량 여부를 확인할 수 있어 마이크로 LED 소자 품질 검사 비용을 50%이상 절감할 수 있을 것으로 기대된다.

이번 제안은 국표원의「첨단산업 국가 표준화 전략」의 일환으로 국내 중소기업의 마이크로 LED 검사 장비 기술을 활용하여 추진되었다. 국표원 오광해 표준정책국장은 “마이크로 LED 소자를 활용한 차세대 디스플레이는 현재 본격 상용화를 앞두고 있어 큰 성장이 기대되는 분야”라면서, “우리나라 기업의 장비 기술이 국제표준이 되어 세계의 기준이 될 수 있도록 적극 지원하겠다”고 전했다.